4.局部放电试验回路和测量系统

4.1 一般要求

本条叙述了几种用于测量局放参量的基本试验回路和测量系统，并介绍了这些回路和系统的工作 原理。试验回路和测量系统应按第5章规定进行校准，并应满足第7章中的规定。有关技术委员会还 可以推荐用于特殊试品的特殊试验回路。只要可能，建议有关技术委员会用视在电荷作为被测参量，但 对特殊情况也可以使用别的参量。
如果有关技术委员会未作规定，则4. 2条所述的任何试验回路以及4.3条中所规定的任何测量系 统均可使用。但任何情况下均应记录所釆用测量系统的最主要特性见第3章）。对于直流 电压试验,参见第11章。
4.2交流电压试验回路
用于局放测量的大多数回路可以由图la?图Id所示的基本回路演变而来。图2和图3表示这些 回路的一些变化，每个回路的组成主要有：
a） 试品，通常被认为是一个电容器Ca（参见附录C）；
b） 耦合电容器Ck,（应设计为低电感电容），或第二个试品Ca1（类似于试品Ca）。在规定的试验电 压下Ck或Ca1均应具有足够低的局放水平，以便对规定的局放值进行测量。如果一个测量系统能够区 分并分别测量来自试品和耦合电容器中的局放，那么允许Ck或Ga1具有较高的局放水平；
c） 带输入阻抗的测量系统（对平衡回路，还需要第二个输入阻抗）；
d） 背景噪声足够低的高压电源（参见第9章和第10章），以便在规定试验电压下对规定的局放值 进行测量；
e） 背景噪声足够低的高压连接（参见第9章和第10章），以便在规定试验电压下对规定的局放值 进行测量；
f） 有时在高压端接入一个阻抗或者滤波器，以减小来自供电电源的背景噪声。
注：对于图1?图3所示的局放基本试验回路，其测量系统的耦合装置也可放在高压端，即耦合装置与G或C*交 换位置;这时可用光缆来连接耦合装置和测量仪器，如图la所示。
不同试验回路的其他情况及特性在附录B和G中考虑。